Ex-Situ GC Messsystem

In der Beschichtungsindustrie sind nicht nur die technischen Eigenschaften der beschichteten Produkte für die Qualitätssicherung relevant. Auch kurze Anlaufzeiten und das schnelle Aufspüren von Fehlern sind essentiell, um die Beschichtungskosten im Griff zu haben. Inline-Messsysteme sind daher weit verbreitet und nichts Neues. Es gibt sowohl In-Situ-Messgeräte in den Anlagen als auch Ex-Situ-Messgeräte in den Bereichen außerhalb.

Das VON ARDENNE Ex-Situ-GC-Messsystem wurde für die Qualitätssicherung und Qualitätsüberwachung bei Beschichtungen auf Glas entwickelt. Es kommt u.a. zum Einsatz bei funktionellen Beschichtungen für Photovoltaik-Anwendungen, Beschichtungen mit geringem Emissionsvermögen (Low-E) und optischen Beschichtungen. Es ist auch für die optische Charakterisierung und Messung des Schichtwiderstandes geeignet.

Aktuelle VON ARDENNE Ex-Situ-Messsysteme für Glas mit Low-E Beschichtung gehen über die reine optische Messung der beschichteten Glasscheibe hinaus. Sie können das Aussehen (technische Parameter, Emissivität, U- oder G-Wert) von Doppel- und Dreifachisolierverglasung vorhersagen, die aus Glasscheiben der aktuellen Produktion entstehen werden.

PLASMA COMPONENTS
Technologiekompetenz
Production/Internet/Live